Мы используем изотопно чистый, галлий для заправки источников ионов жидкого металла 69Ga (LMIS). подходит для использования в системах FIB и FIB-SEM с колонками FEI Zeiss Jeol HITACHI
400000 ₽1 шт.
Заправка ГИС (GIS) систем впрыска газа ФИБ СЭМ
Заправка систем впрыска газа (GIS) ФИБ СЭМ FEI, ZEISS, JEOL FIB и Dual Beam
900000 ₽1 шт.
Расходные материалы для электронной микроскопии
Катод Шоттки Denka TFE 174C
Катод для электронных микроскопов Zeiss, FEI, Jeol, Tescan, Hitachi.